日本AEMIC AE-1152D低电阻测试仪 粉体导电材料精密检测解决方案

2026/09/21  阅读:114

方案摘要

行业痛点:功能性导电粉体阻值微小偏差,会直接影响成品导电性能,传统检测设备精度不足,无法捕捉微小阻值差异,导致粉体成品性能参差、批次不稳定,缺乏精准量化的质控依据。

解决方案:采用AEMIC AE-1152D低电阻测试仪,依托10nΩ超高分辨率与宽量程检测能力,精准测定各类导电粉体成型试样的超低阻值,量化粉体导电性能。通过接触检测功能规避检测误差,搭配数据接口实现检测数据存储追溯,批量筛查粉体性能差异,筛选合格原料与成品。

方案优势:超高精度适配粉体微小阻值检测;数据可追溯,实现粉体性能标准化质控;精准优化粉体配比工艺,大幅提升功能性粉体成品稳定性与良品率。


配置单
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