行业痛点：隔热涂料和辐射制冷涂层的效果好不好，最终要落到半球向发射率这个指标上。很多企业用红外测温仪打一下表面温度就推断发射率，方法本身就不对，测的是表面温度不是材料热辐射能力；专业发射率设备要么需要高温炉加热样品，要么测头笨重，做配方筛选时测一批样要等样品升温降温，效率低。

解决方案：AE1/RD1按ASTM C1371方法测量材料常温半球向发射率。AE1测头为电加热式，样品无需加热、无需温度测量，RD1数显表头直接读出发射率数值。重复性为±0.01发射率单位。预热约30分钟后，每1.5分钟可读一次数。标准测头配固定测量面积，可选小面积适配器或不规则曲面定制转接件。适用于平板、薄膜、涂层等固体样品。

方案优势：常温测量免去样品加热环节，涂料和薄膜不会因温升改变状态；无需用户自行换算信号，RD1直接读数降低操作门槛；1.5分钟测量间隔适合配方筛选时的批量比对；±0.01的重复性足以区分隔热涂料配方间的发射率差异；可选适配器覆盖小样品和异形面。具体参数以正式规格书为准。