粉体粒度分析仪、颗粒形貌图像仪等光学检测设备，镜头光轴偏心、装配偏差会直接造成成像畸变，导致粉体粒度、圆形度、形貌数据系统性失真，严重影响粉体性能检测与工艺判定准确性。设备维保、镜头更换后亟需高精度校准设备校验同轴度。

日本Pearl CM‑100α光轴偏心测量仪采用高精度光学反射检测技术，微米级检测精度，可快速检测光学镜头、透镜组件偏心数值，精准定位装配偏差，为粉体光学检测设备校准提供标准化依据。

有效规避设备光学偏差带来的粉体检测误差，保障粉体性能数据精准、可靠、可溯源。