RETS-100nx相位差测量仪是OLED圆偏光片、叠层补偿膜、IPS液晶用带补偿偏光片等各种薄膜的光学延迟量测量系统。实现非破坏、叠层无需分离的原位测量。RETS-100nx可以高速、高精度测量60,000nm的极高相位差(延迟量)。
简洁、人性化的测量软件，极大地缩短测量与处理时间。此外，轴角度补正功能可以消除因放置而导致的误差。您可以轻松获得高精度测量结果。
特 点
● 采用本公司光谱仪实现高精度测量
1) 高精度
多波长测量实现高精度
说明1: 对于光学原理上难以测量的λ/4, λ/2处的延迟量，通过附近数据拟合求得。
说明2: 测量结果不受膜厚干涉波形的影响。
[高精度的关键]
· 搭载本公司高精度MCPD光谱仪。
· 获取约500个波长的透过率，是其他公司产品的约50倍
2) 0~60,000nm相位差(延迟量)的宽测量范围
可以在相同强度下计算其他波长数据
3) 测量相位差(延迟量)的波长色散
也可以测量逆向分散样品
● 测量范围涵盖了超高相位差(光学延迟量)——可以高速、高精度测量补偿膜
● 多层薄膜测量——可以测量各种薄膜的层叠状态，无需分离或破坏样品
● 轴角补正功能——样品未对准也可测量，且重复性好
■ 重复放置样品 10 次，比较有无校正功能的测量结果
[样品：延迟膜 R85]
● 简洁、人性化的测量软件——大幅缩短测量和处理时间
测 量
测量项目
| 薄膜, 光学材料 | 延迟量(波长色散), 慢轴, Rth*, 三次元折射率(nx ny nz)* 等 |
| 偏光片 | 吸收轴, 偏振度(偏光度), 消光比, 各种色度, 各种透过率 等 |
| 液晶盒 | 液晶盒厚(Cell gap), 预倾角*, 扭曲角, 配向角 等 |
*需要自动倾斜样品台
规 格
| 相位差(延迟量)测量范围 | 0 ~ 60,000nm |
| 相位差(延迟量)的重复精度 | 3σ≦0.08nm(晶体波片 约600nm) |
| CellGap测量范围 | 0 ~ 600μm(Δn=0.1) |
| CellGap的重复性 | 3σ≦0.005μm(液晶盒 约3μｍ, Δn=0.1) |
| 轴的重复精度 | 3σ≦0.08°(晶体波片 约600nm) |
| 测量波长 | 400 ~ 800nm(提供其他波长可选) |
| 检测器 | 光谱仪 |
| 测量光斑 | φ7㎜(标准规格) |
| 光源 | 100W 卤素灯 |
| 样品台(标准) | 100㎜ x 100㎜(固定样品台) |
| 装置尺寸 | 480(W) x 520(D) x 765(H)mm |
| 选配 | · 超高相位差(延迟量)测量 · 多层测量 · 轴角补正功能 · 自动 XY 样品台 · 自动倾斜样品台 |
光学系
● 固定样品台
● 自动 XY 样品台
● 自动倾斜样品台
