会议现场

2019年11月9日至10日，中国颗粒学会颗粒测试专委会主办的第十二届全国颗粒测试学术会议在杭州西子湖畔的赞成宾馆隆重举行。此次会议汇集了来自全国各地百余名颗粒学界的专家、颗粒表征仪器制造与销售企业的代表以及颗粒表征仪器使用单位的代表，展示与探讨颗粒表征科学与技术的新进展、新产品和新应用。会议现场气氛热烈，座无虚席。

上图：张福根博士在会上做报告

颗粒界的资深学者和企业家，珠海真理光学仪器有限公司董事长、天津大学兼职教授张福根博士应邀出席，并做了学术报告。题目是：“粉体（最）大颗粒的科学表征方法探讨”。报告从逻辑上论证了真实的最大粒本质上是不可测的。提出了颗粒表征科学的新名词：视场内最大粒（Biggest Particle in Viewing Field，缩写为“BPVF”），意指进入粒度测量仪器有效传感范围的颗粒中的最大粒。指出当前话语体系中所谓的最大粒，就是指视场内最大粒（BPVF）。目前市面上流行的能测BPVF的粒度仪包括：电阻法颗粒计数器、颗粒图像处理仪、沉降法粒度仪以及其他的计数型粒度仪。张博士在报告论证：激光粒度仪不能测BPVF，当然更不能表征被测样品真实的最大粒。他特别提醒，如果用激光粒度测试报告中的D100（或dmax, d(1.0, v)等等）作为最大粒，有可能给用户带来严重后果。在报告的最后，张博士提出一个用以表征粉体样品中大粒含量的新单位：PPT（

上图：大会优秀论文获奖者（右三是天津大学学生张晨雨）

在本次会议上，张博士指导的天津大学硕士研究生张晨雨做了题为“利用散射光的偏振差异测量颗粒折射率”的学术报告。该课题旨在解决利用激光粒度仪测量粒度分布时需要输入被测样品的折射率，而折射率的数值又难以准确获得的问题。该报告提出了一种利用激光粒度仪在粒度测量过程中获得的被测样品的散射光信号分析计算样品折射率的新方法，理论严谨、实验可靠。该报告荣获大会优秀论文奖。

真理光学的经营理念是“科学态度，工匠精神，成就高端颗粒仪器”。在本次会议报告上的两个兼具科学与技术价值的两项研究都是在真理光学完成的，展现了真理光学对颗粒表征科学的不懈追求。

上图：会议代表大合影