所用设备

仪器：CTX（5Kg负载单元）

附件：2 mm Cylinder Probe (TA-39)

软件：Texture Pro软件

测试类型：Compression压缩

测前速度：0.5 mm/s

测试速度：1.0 mm/s

测后速度：4.5 mm/s

目标类型：Distance

目标距离：2 mm

触发负载：5 g

如下是一个典型的CTX质构仪测试谱图，显示了面饼的硬度，脆性等指标。

图1：粉饼穿刺测试曲线图（负载/时间）

硬度：测试过程中峰值最大力值；

第一断裂衰减：代表产品脆性的层次性，衰减越大说明脆性的层次感越弱；

断裂性：产品发生第一次断裂的力值，力值越大说明越不容易断裂。

测试结果如下:

通过图1可知，当探头向下运行直至达到粉饼表面的破裂点之前，应力一直处于上升的趋势；到达破裂点时，图中显示第一个应力峰值；穿透表面后，测量的力值稳步增加，直到测量到第二个峰值，峰值越大，说明粉末的致密程度越高。