在电子元器件、光学器件的批量检测中，工件正反面的全貌观察、缺陷筛查与位置偏移检测，是提升品控效率的关键。日本 FLOVEL 推出的 TOMOS-50R1 广视野环形照明双面显微镜系统，以低倍光学 + 环形照明的组合，实现 9mm×7mm 的宽视野双面同步拍摄，为电子、光学器件的双面检测提供高效、精准的解决方案。

TOMOS-50R1 搭载 2 台约 200 万像素彩色 / 黑白相机，支持 USB3.0 高速输出，成像清晰细腻，色彩还原度高。设备将低倍率显微镜与环形照明完美结合，可同时安装环形照明与同轴聚光灯，也可选配 10 倍、20 倍等物镜，灵活适配不同检测需求。照明采用 2 组白色 LED 环 / 同轴聚光灯，可通过软件控制正立、倒立，均匀照亮工件表面，避免阴影干扰，完美呈现元器件、树脂部件、镜头等的全貌细节。

该系统的核心优势在于广视野双面同步检测，可一次性完成工件正反面的拍摄，无需翻转工件，大幅提升检测效率。通过软件实现表裹光轴补偿、镜头倍率补偿、相机安装 θ 补偿，确保正反面成像精准对齐，支持表裹图像合成、边缘自动检测，可完成高精度位置偏移测量与缺陷筛查，彻底消除人工检测的个体差异，支持手动与自动测量模式，适配产线批量检测需求。

TOMOS-50R1 结构紧凑，XY 轴可动范围 ±10mm，粗微动调整最大 30mm，操作灵活，上手门槛低。系统搭载 Windows 11 Pro 控制端，搭配纵型液晶显示器可同时显示双相机图像，观测直观便捷。同时支持软件、样品夹定制服务，可根据工件形状、材料定制专属夹具，拓展测量功能，满足个性化检测需求。

该系统的应用场景极为广泛，可用于电容器、电阻等电子元器件的表面瑕疵检查，印刷电路板、印刷物的对齐标记偏移测量，LED 芯片、透镜、光通信部件的位置偏移检测，以及通信设备用树脂部件、镜头等的正反面缺陷筛查，为电子制造、光学加工等行业的品质管控提供高效支撑。