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金埃谱公司受邀参加中国颗粒学会第七届学术年会
2010年8月15-18日，中国颗粒学会第七届年会在西安举行，作为新一届行业盛会，将汇集400多位专家学者、工程技术人员及企业界代表参加。
北京金埃谱科技公司总经理夏攀受邀将在“颗粒测试与应用”论坛做《比表面及孔径分析技术在粉体行业中的应用》的主题发言。
欲了解更多相关信息请致电我公司或在论坛现场与夏攀总经理做进一步交流。
国仪精测 2010-08-11 | 阅读：2994
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