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导读:在德国POWTECH的全力支持下,第十三届中国国际粉体加工/散料输送展览会(IPB 2015)于2015年10月28日-30日在上海跨国采购会展中心成功举办。贝克曼库尔特商贸(中国)有限公司(以下简称:贝克曼库尔特)携最新颗粒分析仪器盛装亮相此次盛会。
自1947年发明了著名的库尔特原理以来,开发出了一系列领先于同行的先进的专利技术,陆续不断地为全球用户奉献出一款款令人瞩目的产品:新一代最高分辨率的颗粒计数及粒度分析仪MS4E、多波长PIDS专利的激光衍射粒度分析仪LS系列、高浓度ZETA电位及纳米粒度分析仪与比表面积分析仪等。
1、Multisizer4e库尔特计数器
Multisizer 4e库尔特计数器
质控用Multisizer 4e是库尔特计数器家族的最新成员,它拥有10μm-2000μm的小孔直径,只需一次分析就能提供粒径范围在0.2μm-1600μm之间颗粒和细胞数量、体积、聚集度及表面粒度分布,并且其分析过程不受颗粒颜色的影响。其数字脉冲处理技术结合了最新技术和软件优势,对脉冲数据经数字化处理,对于选定的脉冲范围可以达到400个粒径通道,当然,用户在使用过程中可以通过需要自行设置通道数和范围。技术成熟,操作方便,高分辨率和动态粒径测量让Multisizer 4e的优势极为突出。
2、LS13320系列全新纳微米激光粒度分析仪
LS 13 320系列微纳米激光粒度分析仪
LS 13 320系列全自动激光粒度仪是目前用途广泛、应用成熟的粒度分析仪,它采用颗粒光散射原理,据光学理论推算颗粒粒度分布,主要适用于粉体或各种材料颗粒粒度分析,其最大特点是粒度分析动态范围宽,分辨能力为同行业中最高;操作简便快捷,自动化程度高,可广泛应用于质量控制实验室、质量控制部门以及其他粒度分析领域。
3.高浓度ZETA电位及纳米粒度分析仪DelsaMax™系列
贝克曼库尔特最新发布新一代的DelsaMax™系列-速度与卓著功能俱备的粒径与Zeta电位分析仪。无论是分析速度、精确度以至于分析原理,DelsaMax™系列均大幅领先于其他对手。从DelsaMax Pro模型的粒径分析与Zeta电位分析独家技术到ASSIST辅助处理系统(选配项),DelsaMax系列分析仪令你的分析探索达到前所未有的深度、广度和速度。
DelsaMax PRO多角度Zeta电位及纳米粒径分析仪
DelsaMax Pro多角度Zeta电位及纳米粒径分析仪–低至45µL的样品,快至1秒钟的分析,DelsaMax PRO同时精确完成粒度及Zeta电位的分析。此外系列产品还有另一个重要组成部分:DelsaMax CORE静态分子量与纳米粒度同步分析仪-顶尖科技带来的动态光散射测量,精确分析0.4nm至10,000nm粒径范围的低至1µL的样品。
4、SA 3100比表面积及孔径分析仪
SA 3100比表面积及孔径分析仪
贝克曼库尔特的SA 3100比表面积及孔径分析仪主要为表征固体材料表面特性提供完整的解决方案。SA 3100比表面积及孔径分析仪采用当今被公认为最准确的气体吸附技术测量固体的比表面积与多孔特性,利用固体表面对气体分子产生吸附作用的原理,结合BET、LANGMUIR等模拟理论,对多孔材料的比表面积、孔径分布进行高精度分析。它是目前功能齐全、分析精确高而快捷的气体吸附分析仪,无论是用于质量控制还是用于研究开发,SA 3100均为明智之选,在行业内颇受追捧。 关于贝克曼库尔特生命科学事业部 |