2010年9月27-29日，北京精微高博科学技术有限公司闪亮登场中国颗粒学会唯一主办的粉体/ 散装行业盛会—IPB 2010 第八届国际粉体工业/散装技术展览会暨会议，展位号1520。此次盛会主要展示了自主研发的全套JW系列（流动色谱法和静态容量法）比表面及孔隙度分析仪，以及组成仪器的关键零部件。
  JW系列动态智能化比表面仪，尤其JW-DA型，是目前国内最先进的动态比表面仪，智能化、精度高、速度快、性能稳，特别适合于电池材料和小比表面材料的测定。此款仪器不但在精美的外观工艺设计上吸引了众多客户眼球，而且更重要的是在性能技术参数上不断受到客户的啧啧称赞。
  静态容量法比表面及孔径分析仪在测试范围和测试精度上趋近国际水平，部分指标已赶超国际先进水平。作为中国比表面及孔径分析仪的最权威专业生产商，北京精微高博具有独立的自主知识产权，独有国内领先技术和高精密分析仪，会一如既往的在物性技术研究领域开拓创新，不断推进分析仪在各行业中的广泛应用。