第四届长余辉与光激励发光国际研讨会(2018)于2018年4月4日-8日在北京航空航天大学举行，北京精微高博科学技术有限公司携BET物理吸附仪亮相。

大会现场

JW-BK200C是一款研究级超高性能双站比表面及微孔孔隙度分析仪，是JW-BK200系列中的一款畅销产品，测试结果准确性、精确性、稳定性完全达到国际先进水平。非常适合活性炭、活性氧化铝、分子筛、沸石、MOF材料等超微孔纳米粉体材料的研究。精微高博产品还包括JW-BK100系列、JW-BK300系列、JW-BK400系列等不同型号比表面及孔径分析仪。

最近几年长余辉与光激励发光材料发展迅速，并广泛应用于各个领域如照明、显示、安全、防伪、传感、生物成像、医学、能源等。本会议的主要目的是报道和研讨发光材料最新的实验和理论进展，展望未来的发展方向。另外，本次会议将促进和加强研究人员之间及学术界与企业界的合作。对参加会议的学生也能起到培养作用。

本次会议的议题：

♦新型发光材料及制备方法

♦光谱表征方法例如光致发光谱、热释发光谱等。

♦ 结构、缺陷和性能表征方法

♦ 能量传递过程

♦晶体结构、电子结构、荷电/捕获/发光等的计算机模拟

♦纳米发光材料

♦固态照明、显示和能量转换中的应用

♦生物成像、细胞标记、抗癌、药物输运/释放等应用

♦传感、安全、隐身、辐射探测等方面的应用

关于精微高博：

北京精微高博科学技术有限公司被誉为“中国氮吸附仪的开拓者”，在国内率先研发成功动态全自动比表面仪、BET比表面仪、阶梯法动态比表面仪、単气路常压孔径分析仪、静态容量法介孔分析仪、静态四站比表面测定仪、高性能静态微孔分析仪、气体法真密度仪、高压吸附仪等。随着JWGB（精微高博）产品在全球市场知名度的提升，我们期待精微高博国际市场也将越做越大。了解更多，请登录www.jwgb.net或致电400-600-5039