粒度表征在集成电路半导体行业的应用--欧美克产品经理 沈兴志

2026/07/06  阅读:29 552KB

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在半导体制造过程中,以激光粒度仪和纳米及Zeta电位分析仪为代表的多种粒度表征技术发挥着至关重要的作用。从原材料的筛选到最终产品的质量控制,从工艺方案的开发到生产过程的把关,各种颗粒材料的粒度的精确测量和分析贯穿始终。

作为马尔文帕纳科旗下子公司,欧美克的引进国际粒度表征技术的系列国产化分析仪器具有良好的重现性和灵敏度,以其可信赖的质量控制数据及可比性的质量差异评价,提供了产业链中有序的质量规范可行性基础和生产过程指导。


配置单
Topsizer Plus激光粒度分析仪

型号:Topsizer Plus

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NS-180Z Plus纳米粒度及电位分析仪

型号:NS-180Z Plus

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型号:DPF-110A

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